브이플러스랩2020년 7월 15일김문주 대표 ACM/IEEE International Conference on Automation of Software Test (AST) 2020 국제 학회 키노트 발표- [AST 2020] : 브이플러스랩 김문주 대표 키노트 연사 초빙 소개 - [CROWN 2.0] : Automated Test Generation for Industrial Embedded Software-17 Years Journey from Research To Product [pdf]
- [AST 2020] : 브이플러스랩 김문주 대표 키노트 연사 초빙 소개 - [CROWN 2.0] : Automated Test Generation for Industrial Embedded Software-17 Years Journey from Research To Product [pdf]
